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J-GLOBAL ID：202103017157219716

信号処理システム

Inventor： 山本 大 ,  鳥居 直哉
Applicant, Patent owner： 富士通株式会社
Agent (1)： 國分 孝悦
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2017030983
Publication number (International publication number)：2018136757
Patent number：6867582
Application date： Feb. 22, 2017
Publication date： Aug. 30, 2018
Claim (excerpt)：

【請求項1】 物理的クローン作製不能機能を有する第1の回路の論理ゲートをそれぞれ有する複数のチップと、 前記複数のチップを搭載した基板に形成され、前記複数のチップを接続し前記第1の回路の信号経路の一部を形成する信号線とを有し、 前記複数のチップの内の1つのチップであって、前記第1の回路の出力を出力する第1のチップは、 前記第1の回路の信号経路に挿入された遅延回路と、 前記第1の回路の出力を検出し該出力に応じて前記遅延回路の遅延量を制御する制御回路とを有することを特徴とする信号処理システム。

IPC (2)：

G06F 21/75 ( 201 3.01) ,  G06F 21/73 ( 201 3.01)

FI (2)：

G06F 21/75 ,  G06F 21/73

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (3)

• 多角形又は円形の横断面を有する物体の直径を測定する工具
  Gazette classification：公表公報   Application number：特願2003-568343   Applicant：オズ・ヴィゴ・メルマン
• 集積回路の認証
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2011-011192   Applicant：マサチューセッツインスティテュートオブテクノロジー
• 電子回路、認証装置及び認証システム
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2015-049797   Applicant：富士通株式会社

Cited by examiner (3)

• 多角形又は円形の横断面を有する物体の直径を測定する工具
  Gazette classification：公表公報   Application number：特願2003-568343   Applicant：オズ・ヴィゴ・メルマン
• 集積回路の認証
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2011-011192   Applicant：マサチューセッツインスティテュートオブテクノロジー
• 電子回路、認証装置及び認証システム
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2015-049797   Applicant：富士通株式会社