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J-GLOBAL ID：202104008670878576
Research Project code：18071859
クライオ電子顕微鏡法のベイズ高度化と他計測との融合
クライオ電子顕微鏡法のベイズ高度化と他計測との融合
National award number：JPMJCR1865
Study period：2018 - 2023
Organization (1)：
Principal investigator：
(
, 超高圧電子顕微鏡センター, 教授 )
DOI：
https://doi.org/10.52926/JPMJCR1865
Research overview：
本研究提案では、X線一分子計測でのベイズ推定を利用した解析の高度化の手法を参考に、単粒子解析を高度化・汎用化します。さらに最近、その分解能が向上した電子線トモグラフィー法に関しても、同様にベイズ推定を用いることで、分解能の向上を目指します。また、ベイズ推定などを用いてクライオ電子顕微鏡からの構造情報と他の計測からのデータなどを統合する手法の高度化・汎用化し、時系列解析と原子モデル精密化を行います。
Terms in the title (4)：
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Research program：
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Parent Research Project：
計測技術と高度情報処理の融合によるインテリジェント計測・解析手法の開発と応用
Organization with control over the research：
Japan Science and Technology Agency
