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J-GLOBAL ID：202203007214819581

荷電粒子放射線計測方法および荷電粒子放射線計測装置

Inventor： 加田 渉 ,  三浦 健太 ,  花泉 修 ,  山田 鈴弥 ,  須崎 純一 ,  田中 基
Applicant, Patent owner： 国立大学法人群馬大学 ,  デンカ株式会社
Agent (1)： 園田・小林特許業務法人
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2017036154
Publication number (International publication number)：2018141705
Patent number：7109885
Application date： Feb. 28, 2017
Publication date： Sep. 13, 2018
Claim (excerpt)：

【請求項1】 窒化物蛍光体を85質量%以上含む蛍光体を含むシンチレータを用い、 窒化物蛍光体が、CaAlSiN3:Eu蛍光体(CASN蛍光体)、(Sr、Ca)AlSiN3:Eu蛍光体(SCASN蛍光体)及び(Mg、Ca、Sr、Ba)2Si5N8:Eu蛍光体(258蛍光体)から選択される1種以上を含む、荷電粒子放射線計測方法。

IPC (4)：

G01T 1/20 ( 200 6.01) ,  C09K 11/64 ( 200 6.01) ,  G01T 1/202 ( 200 6.01) ,  G21C 17/12 ( 200 6.01)

FI (4)：

G01T 1/20 B ,  C09K 11/64 ,  G01T 1/202 ,  G21C 17/12 200

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• αβ弁別型放射線検出器
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2000-066934   Applicant：株式会社東芝
• 遠紫外高輝度発光する高純度六方晶窒化ホウ素単結晶粉末とその製造方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2005-193358   Applicant：独立行政法人物質・材料研究機構
• 蛍光体及びこれを用いた発光装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2014-041111   Applicant：パナソニック株式会社
• 検出器装置及びX線CT装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2016-079049   Applicant：東芝メディカルシステムズ株式会社