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J-GLOBAL ID：202203012606087507
屈折率計測装置及び方法
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
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Agent (1)：
松谷 道子
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2017160442
Publication number (International publication number)：2019039723
Patent number：6985695
Application date： Aug. 23, 2017
Publication date： Mar. 14, 2019
Claim (excerpt)：
【請求項1】 所定の媒質中にクラッドレス・マルチモード光ファイバーを配置し、屈折率依存性の光スペクトルシフトを示すマルチモード干渉光ファイバーセンサーを含む光伝送路を有し、光共振器を所定の分散量に制御することで、スペクトルにおいて櫛の歯状で等間隔に並置し位相同期した複数の波長が光共振状態となり、光周波数コムを発生するファイバー光コム共振器である光共振器を備える屈折率計測装置であって、
前記光ファイバーは、屈折率依存性の光スペクトルシフトを、光共振器ファイバーの屈折率分散を介して、光コム繰り返し周波数シフトに変換する光共振器ファイバーであり、
前記屈折率計測装置は、
前記光共振器により発生される光コム繰り返し周波数信号を交流電気信号に光電変換する光検出器と、
前記光検出器から出力される交流電気信号の繰り返し周波数に基づいて、前記媒質中の光の屈折率を計測する計測制御手段とを備えたことを特徴とする屈折率計測装置。
IPC (3)：
G01N 21/41 ( 200 6.01)
, H01S 3/067 ( 200 6.01)
, H01S 3/00 ( 200 6.01)
G01N 21/41 A
, H01S 3/067
, H01S 3/00 F
Cited by applicant (3)
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屈折率の検出方法及び光ファイバセンサシステム
Gazette classification：公開公報
Application number：特願2011-126942
Applicant：国立大学法人岡山大学
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ファブリ・ペロー干渉計を用いた屈折率測定装置
Gazette classification：公開公報
Application number：特願2005-242946
Applicant：独立行政法人産業技術総合研究所
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光源装置及びこれを用いた撮像装置
Gazette classification：公開公報
Application number：特願2010-225992
Applicant：キヤノン株式会社
Cited by examiner (3)
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屈折率の検出方法及び光ファイバセンサシステム
Gazette classification：公開公報
Application number：特願2011-126942
Applicant：国立大学法人岡山大学
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ファブリ・ペロー干渉計を用いた屈折率測定装置
Gazette classification：公開公報
Application number：特願2005-242946
Applicant：独立行政法人産業技術総合研究所
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光源装置及びこれを用いた撮像装置
Gazette classification：公開公報
Application number：特願2010-225992
Applicant：キヤノン株式会社
Article cited by the Patent：
Cited by applicant (2)
Cited by examiner (2)
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