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J-GLOBAL ID：202203013104485653

磁気異方性評価装置、磁気異方性評価方法および演算機構

Inventor： 小野 拓也 ,  島津 武仁 ,  北上 修 ,  岡本 聡 ,  菊池 伸明
Applicant, Patent owner： 富士電機株式会社 ,  国立大学法人東北大学
Agent (1)： 特許業務法人 谷・阿部特許事務所
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2018079748
Publication number (International publication number)：2019190836
Patent number：7041876
Application date： Apr. 18, 2018
Publication date： Oct. 31, 2019
Claim (excerpt)：

【請求項1】 平坦な平面を有する薄膜の磁性体のホール抵抗を測定する機構と、 前記磁性体に磁界を印加する機構と、 前記磁性体のホール抵抗の印加磁界角度依存性から、磁気トルク曲線を演算する第1の演算と、 前記演算した磁気トルク曲線から磁気異方性定数を演算するための第2の演算する機構と、 を備えたことを特徴とする磁気異方性評価装置。

IPC (4)：

G01N 27/72 ( 200 6.01) ,  G01R 33/12 ( 200 6.01) ,  G11B 5/84 ( 200 6.01) ,  G01L 3/14 ( 200 6.01)

FI (4)：

G01N 27/72 ,  G01R 33/12 Z ,  G11B 5/84 C ,  G01L 3/14 Z