磁気異方性評価装置、磁気異方性評価方法および演算機構

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Applicant, Patent owner： ,
Agent (1)：特許業務法人谷・阿部特許事務所
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2018079748
Publication number (International publication number)：2019190836
Patent number：7041876
Application date： Apr. 18, 2018
Publication date： Oct. 31, 2019
Claim (excerpt)：

【請求項1】平坦な平面を有する薄膜の磁性体のホール抵抗を測定する機構と、前記磁性体に磁界を印加する機構と、前記磁性体のホール抵抗の印加磁界角度依存性から、磁気トルク曲線を演算する第1の演算と、前記演算した磁気トルク曲線から磁気異方性定数を演算するための第2の演算する機構と、を備えたことを特徴とする磁気異方性評価装置。

IPC (4)：

G01N 27/72 ( 200 6.01) , G01R 33/12 ( 200 6.01) , G11B 5/84 ( 200 6.01) , G01L 3/14 ( 200 6.01)

FI (4)：

G01N 27/72 , G01R 33/12 Z , G11B 5/84 C , G01L 3/14 Z

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (3)

サンプルの磁気モーメントを感知するための方法およびトルク磁力計
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平10-067114 Applicant：クウォンタム・デザイン・インコーポレイテッド
特開昭57-082778
スピンホール現象を利用した磁界測定装置および方法
Gazette classification：公表公報 Application number：特願2018-541223 Applicant：コリアユニバーシティリサーチアンドビジネスファウンデーション,セジョンキャンパス

Article cited by the Patent：

Cited by applicant (2)

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