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J-GLOBAL ID：202203014433416847
時系列データ評価装置及び時系列データ評価用プログラム
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
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Agent (3)：
松浦 孝
, 本田 崇
, 小倉 洋樹
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2020110907
Publication number (International publication number)：2022007775
Patent number：7067748
Application date： Jun. 26, 2020
Publication date： Jan. 13, 2022
Claim (excerpt)：
【請求項1】 nを正の整数として、データ長がn+1の時系列データ{ξ0,ξ2,ξ3,・・・,ξn}が、写像τによりξk=τ(ξk-1)=τk(ξ0),k=1,2,・・・,nとして生成されるとき、ξkが含まれる区間Iをm個の区間に等分割した分割区間Xi(i=1,2,・・・,m)について、各分割区間を更にM等分した細分割区間Xjを有するデータに関し、外測度と同時外測度を求めると共に内測度と同時内測度を求める外測度・内測度算出手段と、 前記外測度と前記同時外測度に基づき、データ密度を一定としたときの一定密度同時外測度及びi固定の外測度全度数を求めると共に、前記内測度と前記同時内測度に基づき、データ密度を一定としたときの一定密度同時内測度及びi固定の内測度全度数を求める一定密度情報算出手段と、 前記一定密度同時外測度及び前記i固定の外測度全度数に基づき、外測度に関する外測度確率分布とデータ密度を一定とした場合の外測度条件付確率分布を求めると共に、前記一定密度同時内測度及び前記i固定の内測度全度数に基づき、内測度に関する内測度確率分布とデータ密度を一定とした場合の内測度条件付確率分布を求める確率分布算出手段と、 前記外測度確率分布と前記外測度条件付確率分布に基づき外測度に関する外測度データ評価値を求めると共に、前記内測度確率分布と前記内測度条件付確率分布に基づき内測度に関する内測度データ評価値を求める外測度・内測度評価値算出手段と、 前記外測度データ評価値と前記内測度データ評価値に基づき前記時系列データ全体の評価値を算出する時系列データ評価値算出手段と を具備することを特徴とする時系列データ評価装置。
IPC (1)：
FI (1)：
Patent cited by the Patent：
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