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J-GLOBAL ID:202203017749140907

ゴム組成物の分析方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (6): 蔦田 正人 ,  中村 哲士 ,  富田 克幸 ,  有近 康臣 ,  前澤 龍 ,  水鳥 正裕
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2020188972
Publication number (International publication number):2022077904
Application date: Nov. 12, 2020
Publication date: May. 24, 2022
Summary:
【課題】ゴム組成物中に含まれる元素の分散状態を分析する、ゴム組成物の分析方法を提供する。 【解決手段】加硫ゴムに、一次イオンビームをビームスポット0.25μm 2 以下で照射し、発生した二次イオンを測定することにより、ゴム組成物中に含まれる元素の分散状態を分析する、ゴム組成物の分析方法であって、酸素の検出強度を光学画像上に表示する工程と、酸化亜鉛の検出強度を光学画像上に表示する工程とを有する、ゴム組成物の分析方法とする。 【選択図】図2
Claim (excerpt):
加硫ゴムに、一次イオンビームをビームスポット0.25μm 2 以下で照射し、発生した二次イオンを測定することにより、ゴム組成物中に含まれる元素の分散状態を分析する、ゴム組成物の分析方法であって、 酸素の検出強度を光学画像上に表示する工程と、 酸化亜鉛の検出強度を光学画像上に表示する工程とを有する、ゴム組成物の分析方法。
IPC (2):
G01N 23/225 ,  G01N 33/44
FI (2):
G01N23/2258 ,  G01N33/44
F-Term (11):
2G001AA03 ,  2G001BA07 ,  2G001CA03 ,  2G001EA03 ,  2G001HA13 ,  2G001KA01 ,  2G001LA05 ,  2G001NA03 ,  2G001NA13 ,  2G001NA17 ,  2G001NA18
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (3)

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