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J-GLOBAL ID：202203017925118425

判定装置、計算装置、および学習システム

Inventor：
河野 泰人

About 河野 泰人

, 
関川 浩

About 関川 浩


Applicant, Patent owner：
日本電信電話株式会社

About 日本電信電話株式会社

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学校法人東京理科大学

About 学校法人東京理科大学


Agent (3)： 中尾 直樹 ,  中村 幸雄 ,  義村 宗洋
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2019047931
Publication number (International publication number)：2020149523
Patent number：7101355
Application date： Mar. 15, 2019
Publication date： Sep. 17, 2020
Claim (excerpt)：
【請求項1】 判定装置であって、 第1古典計算部と第1量子状態生成部と第2量子状態生成部と第1スワップテスト部と第3量子状態生成部と第4量子状態生成部と第2スワップテスト部と第2古典計算部とを有し、 n,Nが正の整数であり、i=1,...,nであり、imが虚数単位であり、ηTがηの転置であり、|Λ|がΛの要素数であり、||η||がηの長さであり、<τ,χ>がτとχとの内積であり、η1⊆η2はη1がη2の部分集合であることを表し、B={b1,...,bn}が一次独立なn次元ベクトルbiからなる基底であり、前記n次元ベクトルbiのそれぞれがn個の整数要素からなり、L(B)が格子{Σi=1,...,n xibi|xi∈Z,bi∈B}であり、L(B-)が前記基底Bと前記整数Nとに対して定義されるNに関する双対格子であり、xiが整数であり、B-がBのNに関する双対基底であり、R⊆Znが整数要素からなるn次空間に属する部分領域であり、t1=(t1,1,...,t1,n)Tがn個の整数要素t1,iからなる目標ベクトルであり、t2=(t2,1,...,t2,n)Tがn個の整数要素t2,iからなる目標ベクトルであり、t1(d)が前記目標ベクトルt1と前記目標ベクトルt1の最近ベクトルt1(c)∈L(B)との差分ベクトルt1(d)=t1-t1(c)=(t1,1(d),...,t1,n(d))であり、t2(d)が前記目標ベクトルt2と前記目標ベクトルt2の最近ベクトルt2(c)∈L(B)との差分ベクトルt2(d)=t2-t2(c)=(t2,1(d),...,t2,n(d))であり、 前記第1古典計算部は、前記基底Bおよび前記整数Nを用い、前記双対基底B-を得て出力し、 前記第1量子状態生成部は、の量子状態からなるレジスタを複数個生成し、 前記第2量子状態生成部は、一部の量子状態|φ>0のレジスタに量子操作を行い、前記量子操作が施されたレジスタの量子状態をに遷移させ、 前記第1スワップテスト部は、量子状態|φ>0のレジスタと各量子状態|φ>t1のレジスタとの各ペアに対してスワップテストを実行し、前記量子状態|φ>0と前記量子状態|φ>t1とのペアに対するスワップテストの結果が受理となるか拒否となるかを判定し、 前記第3量子状態生成部は、の量子状態からなるレジスタを複数個生成し、 前記第4量子状態生成部は、一部の量子状態|φ>0のレジスタに量子操作を行い、前記量子操作が施されたレジスタの量子状態をに遷移させ、 前記第2スワップテスト部は、量子状態|φ>0のレジスタと量子状態|φ>t2のレジスタとの各ペアに対してスワップテストを実行し、前記量子状態|φ>0と前記量子状態|φ>t2とのペアに対するスワップテストの結果が受理となるか拒否となるかを判定し、 前記第2古典計算部は、前記スワップテストの結果を用いて、量子状態|φ>0と量子状態|φ>t1とのペアに対するスワップテストの結果が受理となる確率p1と、量子状態|φ>0と量子状態|φ>t2とのペアに対するスワップテストの結果が受理となる確率p2を計算し、p1≧p2の場合に||t1(d)||≦||t2(d)||であることを表す情報を出力し、p1<p2の場合に||t1(d)||>||t2(d)||であることを表す情報を出力するか、または、p1>p2の場合に||t1(d)||<||t2(d)||であることを表す情報を出力し、p1≦p2の場合に||t1(d)||≧|t2(d)||であることを表す情報を出力する、判定装置。
IPC (2)：
G06N 10/00 ( 202 2.01) ,  G06N 3/08 ( 200 6.01)
FI (2)：
G06N 10/00 ,  G06N 3/08
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (4)
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Article cited by the Patent：
Cited by applicant (1)

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