X線撮像装置

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner： ,
Agent (3)：長谷川芳樹 , 諏澤勇司 , 小松秀輝
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2022098897
Publication number (International publication number)：2022120194
Application date： Jun. 20, 2022
Publication date： Aug. 17, 2022
Summary：

【課題】X線センサの性能を十分に引き出す。【解決手段】X線源2と、X線の強度情報を取得するX線センサ3と、撮像対象100の表面までの距離情報を得る距離センサ4と、強度情報及び距離情報を利用して、撮像情報を得る情報処理装置5と、を備える。情報処理装置5は、少なくとも距離情報を利用して、強度情報から撮像情報の生成に用いる情報を抽出する抽出部12と、強度情報を用いて撮像情報を生成する再構成部13と、を有する。【選択図】図2

Claim (excerpt)：

撮像対象を透過したX線の強度を利用して前記撮像対象の内部構造を示す撮像情報を得るX線撮像装置であって、前記撮像対象に向けて前記X線を出射するX線源と、前記撮像対象を挟むように前記X線源と対向して配置され、前記撮像対象を透過した前記X線の強度情報を得るX線強度計測部と、前記X線強度計測部に対して相対的に固定された位置に配置され、前記撮像対象の表面において反射する計測光を前記撮像対象に向けて照射し、前記撮像対象の表面において反射した前記計測光を用いて、前記撮像対象の表面までの距離情報を得る距離計測部と、前記強度情報及び前記距離情報を利用して、前記撮像情報を得る情報処理部と、を備え、前記情報処理部は、少なくとも前記距離情報を利用して、前記撮像情報の生成に用いる情報を複数の前記強度情報から抽出する抽出部と、前記抽出部において抽出された前記強度情報を用いて前記撮像情報を生成する画像生成部と、を有する、X線撮像装置。

IPC (1)：

A61B 6/03

FI (2)：

A61B6/03 350Y , A61B6/03 350S

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (7)

放射線断層撮影システム及びその制御プログラム
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2016-030889 Applicant：ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ
X線撮影システム
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2010-145225 Applicant：株式会社東芝, 東芝メディカルシステムズ株式会社
放射線照射システム、放射線照射制御装置、およびプログラム
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2009-258081 Applicant：富士フイルム株式会社

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Cited by examiner (3)

被検体の呼吸周期を追跡するシステム及び方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2008-085073 Applicant：ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ
X線CT装置及び画像再構成方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2005-109867 Applicant：株式会社東芝, 東芝メディカルシステムズ株式会社, 東芝医用システムエンジニアリング株式会社
乳房断層画像撮影装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2008-216118 Applicant：富士フイルム株式会社

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