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J-GLOBAL ID：201703006151477689

放射線断層撮影システム及びその制御プログラム

Inventor：
渡辺 誠記

About 渡辺 誠記

, 
石原 陽太郎

About 石原 陽太郎


Applicant, Patent owner：
ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ

About ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ


Agent (6)： 荒川 聡志 ,  小倉 博 ,  黒川 俊久 ,  田中 拓人 ,  小島 猛 ,  澤木 亮一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2016030889
Publication number (International publication number)：2017148110
Application date： Feb. 22, 2016
Publication date： Aug. 31, 2017
Summary：
【課題】スカウトスキャンを行なわない場合においても、スカウトスキャンを行なった場合と同程度に適切な放射線の照射条件を設定することができる放射線断層システムを提供する。【解決手段】X線CTシステムは、被検体における所要の基準幅及び所要の基準体厚のうちの少なくとも一方を想定して設定され、なおかつ被検体におけるX線の吸収度合を考慮して設定された基準照射条件を記憶する記憶装置と、被検体の幅及び体厚を検出するカメラ及び距離センサと、検出された前記被検体の幅と前記基準幅との差異及び前記光学式センサによって検出された前記被検体の体厚と前記基準体厚との差異の少なくとも一方に応じて前記基準照射条件を補正して、撮影時において前記X線管によって照射されるX線の照射条件を設定する照射条件設定部76と、を備える。【選択図】図3
Claim (excerpt)：
被検体に対して放射線を照射する放射線管と、 該放射線管によって照射される放射線の基準照射条件であって、前記被検体における所要の基準幅及び所要の基準体厚のうちの少なくとも一方を想定して設定され、なおかつ被検体における前記放射線の吸収度合を考慮して設定された基準照射条件を記憶する記憶装置と、 前記被検体の幅及び体厚のうち少なくとも一方を検出する光学式センサと、 該光学式センサによって検出された前記被検体の幅と前記基準幅との差異及び前記光学式センサによって検出された前記被検体の体厚と前記基準体厚との差異の少なくとも一方に応じて前記基準照射条件を補正して、撮影時において前記放射線管によって照射される放射線の照射条件を設定する照射条件設定部と、 を備えることを特徴とする放射線断層撮影システム。
IPC (1)：
A61B 6/03
FI (1)：
A61B6/03 330B
F-Term (4)：
4C093CA18 ,  4C093CA34 ,  4C093EE16 ,  4C093FA18
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (7)
  • 調整可能なコンピュータ断層撮影装置
    Gazette classification：公表公報   Application number：特願平10-542107   Applicant：コーニンクレッカフィリップスエレクトロニクスエヌヴィ
  • X線診断装置及びX線診断装置の制御方法
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2010-001479   Applicant：株式会社東芝, 東芝メディカルシステムズ株式会社
  • X線CT装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2001-067150   Applicant：株式会社日立メディコ
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