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J-GLOBAL ID:202303004691241387

荷電粒子の出射制御装置、方法及びプログラム

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 弁理士法人東京国際特許事務所
Gazette classification:特許公報
Application number (International application number):2019125124
Publication number (International publication number):2021012776
Patent number:7290274
Application date: Jul. 04, 2019
Publication date: Feb. 04, 2021
Claim (excerpt):
【請求項1】 シンクロトロンにおいて周回する荷電粒子の電流値を検出した第1検出信号を受信する第1受信部と、 前記第1検出信号に、少なくとも時間微分を含む演算を行い、ビーム強度相当値を出力する演算処理部と、 前記ビーム強度相当値が目標値に一致するように、前記シンクロトロンからビーム輸送系に荷電粒子ビームを出射させる制御信号を出力する出射制御部と、 前記ビーム輸送系に出射された前記荷電粒子ビームの強度を検出した第2検出信号を受信する第2受信部と、 前記ビーム強度相当値と前記第2検出信号の何れが前記出射制御部へ入力されるかを切り替える切替部と、を備え、 前記出射制御部は、 前記第2検出信号が入力される場合は、前記第2検出信号が前記目標値に一致するように前記制御信号を出力し、前記シンクロトロンから前記ビーム輸送系に前記荷電粒子ビームを出射させる荷電粒子の出射制御装置。
IPC (2):
H05H 13/04 ( 200 6.01) ,  A61N 5/10 ( 200 6.01)
FI (3):
H05H 13/04 G ,  H05H 13/04 R ,  A61N 5/10 H
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (4)
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Cited by examiner (4)
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