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J-GLOBAL ID：202303009513576750

評価装置、本物感評価方法およびプログラム

Inventor： 渡辺 修平 ,  富永 昌二 ,  堀内 隆彦
Applicant, Patent owner： 株式会社リコー ,  国立大学法人千葉大学
Agent (1)： 酒井 宏明
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2019051222
Publication number (International publication number)：2020153759
Patent number：7308443
Application date： Mar. 19, 2019
Publication date： Sep. 24, 2020
Claim (excerpt)：

【請求項1】 皮革の表面を撮像した画像に基づいて前記皮革の本物感を評価する評価装置において、 前記皮革の撮像画像内の色度分布に基づく統計量を算出する統計量算出手段と、 前記皮革の撮像画像内の前記皮革のシボまたはムラとしての表面性状の変動量に基づく空間周波数特性を、前記皮革の表面性状に応じて少なくとも2つ以上の周波数帯に分けて積分し、それぞれの積分値を得る分割積分値取得手段と、 本物感の主観評価実験によって得られた複数の主観評価点に基づいてそれぞれ決定される係数を用い、前記統計量および前記積分値から前記皮革の本物感の評価式を構築して、前記皮革の本物感を示す評価値を算出する評価値算出手段と、 前記皮革の撮像画像内の色度分布を取得する色度分布取得手段と、 前記皮革の撮像画像内の表面性状を取得する表面性状取得手段と、を備え、 前記色度分布取得手段と前記表面性状取得手段とは、少なくとも2角度以上の計測角度条件から取得された前記皮革の撮像画像を取得する、ことを特徴とする評価装置。

IPC (4)：

G01N 21/27 ( 200 6.01) ,  G06T 7/90 ( 201 7.01) ,  G06T 7/00 ( 201 7.01) ,  G01N 21/47 ( 200 6.01)

FI (5)：

G01N 21/27 A ,  G01N 21/27 B ,  G06T 7/90 A ,  G06T 7/00 Z ,  G01N 21/47 Z

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

• 光輝感評価装置及び光輝感評価方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2002-172750   Applicant：ミノルタ株式会社, 関西ペイント株式会社
• 画像解析装置、画像解析方法、および画像解析プログラム
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2017-014650   Applicant：国立大学法人東京大学, 株式会社資生堂
• 素肌または化粧肌の質感評価方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2013-096813   Applicant：日本メナード化粧品株式会社
• 化粧料の質感を測定する方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2016-254331   Applicant：株式会社資生堂
• 計測装置および計測システム
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2017-132028   Applicant：株式会社リコー