Pat

J-GLOBAL ID：202303012891885826

放射線被ばくの検出方法

Inventor： 柏倉 幾郎 ,  中井 雄治 ,  山口 平
Applicant, Patent owner： 国立大学法人弘前大学
Agent (4)： 特許業務法人謝国際特許商標事務所 ,  謝 卓峰 ,  當別當 健司 ,  元山 忠行
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2018223161
Publication number (International publication number)：2020080781
Patent number：7222526
Application date： Nov. 29, 2018
Publication date： Jun. 04, 2020
Claim (excerpt)：

【請求項1】 Slfn4、Smim3、Cxx1c、Tmem40、Gp1bbおよびLitafからなる群より選ばれる少なくとも1種の遺伝子、または該遺伝子のオルソログからなる群より選ばれる少なくとも1種の遺伝子の、放射線被ばく後24時間でのmRNA発現量を測定し、放射線被ばく前の前記遺伝子のそれぞれのmRNA発現量を基準値として、前記遺伝子のmRNA発現量が増加する場合に放射線照射を受けたと判断することを特徴とする、マウスまたはヒトにおける放射線被ばくの検出方法であって、前記遺伝子が血液から得られ、前記放射線被ばくが、3Gy以下である、検出方法。

IPC (9)：

C12Q 1/68 ( 201 8.01) ,  C12Q 1/6813 ( 201 8.01) ,  C12Q 1/6851 ( 201 8.01) ,  C12Q 1/686 ( 201 8.01) ,  C12Q 1/6876 ( 201 8.01) ,  C12Q 1/06 ( 200 6.01) ,  G01N 33/50 ( 200 6.01) ,  G01N 33/53 ( 200 6.01) ,  C12N 15/12 ( 200 6.01)

FI (9)：

C12Q 1/68 ,  C12Q 1/681 ZNA Z ,  C12Q 1/685 Z ,  C12Q 1/686 Z ,  C12Q 1/687 Z ,  C12Q 1/06 ,  G01N 33/50 P ,  G01N 33/53 M ,  C12N 15/12

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 幹細胞における低線量被ばくの検出マーカー、及び該マーカーを用いる幹細胞での低線量被ばくレベルを推定又は検出する方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2007-008086   Applicant：独立行政法人放射線医学総合研究所
• 生物における低線量放射線被ばくを検出する方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2005-281931   Applicant：独立行政法人放射線医学総合研究所

Article cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• Proceedings of the 46th Annual ASTRO Meeting, 2004, Vol.60, No.1, p.S369-S370
• RADIATION RESEARCH, 2020, Vol.193, p.274-285