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J-GLOBAL ID：202303015809404083

画像解析方法、画像解析装置、画像解析システム、制御プログラム、記録媒体

Inventor： 沼崎 穂高 ,  友久 将一 ,  小泉 雅彦 ,  山本 浩文 ,  中根 和昭 ,  富山 憲幸 ,  梁川 雅弘 ,  本多 修
Applicant, Patent owner： 国立大学法人大阪大学
Agent (1)： 弁理士法人 HARAKENZO WORLD PATENT & TRADEMARK
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：0045155
Patent number：7265805
Application date： Dec. 04, 2020
Claim (excerpt)：

【請求項1】 組織を撮像した組織画像を解析する方法であって、 前記組織画像から解析対象となる対象領域画像を抽出し、該対象領域画像について、二値化の基準値が異なる複数の二値化画像を生成する二値化ステップと、 複数の前記二値化画像のそれぞれについて、第1画素値と第2画素値とに二値化された後における前記第1画素値の画素に囲まれた、該二値化後における前記第2画素値の画素からなる穴形状の領域の数を示す第1特徴数を含む特徴数を算出する特徴数算出ステップと、 前記第1特徴数が最大となる二値化画像を特定し、特定した該二値化画像における二値化の基準値を示す第1基準値、および該二値化画像における前記第1特徴数を示す最大第1特徴数を特定する基準値特定ステップと、 前記第1基準値および前記最大第1特徴数に基づいて、前記組織に生じた変化を判定する判定ステップと、を含む、画像解析方法。

IPC (1)：

A61B 6/03 ( 200 6.01)

FI (2)：

A61B 6/03 360 J ,  A61B 6/03 360 C