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J-GLOBAL ID：202303018795573099
検出システム
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
弁理士法人鈴榮特許綜合事務所
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2023189391
Publication number (International publication number)：2023181535
Application date： Nov. 06, 2023
Publication date： Dec. 21, 2023
Summary：
【課題】適切な検出条件を決定する。
【解決手段】演算装置は、繰り返しパターンを有するセンサに標識物で標識した検出対象物を添加し、当該センサに電磁波を照射して当該電磁波の反射率又は透過率の変化によって前記検出対象物を検出する検出装置に関する検出条件を決定する。演算装置は、条件が入力される入力インターフェースと、入力された前記条件に応じて、前記標識物で標識した前記検出対象物の大きさが前記センサにおける前記電磁波による電場の染み出し深さ以下となるように、前記電磁波の周波数と、前記標識物の大きさと、前記パターンの大きさとのうち、少なくとも1つを決定するように構成されたプロセッサとを備える。
【選択図】図1
Claim (excerpt)：
繰り返しパターンを有するセンサに標識物で標識した検出対象物を添加し、当該センサに電磁波を照射して当該電磁波の反射率又は透過率の変化によって前記検出対象物を検出する検出装置に関する検出条件を決定するための演算装置であって、
条件が入力される入力インターフェースと、
入力された前記条件に応じて、前記標識物で標識した前記検出対象物の大きさが前記センサにおける前記電磁波による電場の染み出し深さ以下となるように、前記電磁波の周波数と、前記標識物の大きさと、前記パターンの大きさとのうち、少なくとも1つを決定するように構成されたプロセッサと
を備える演算装置。
IPC (1)：
FI (1)：
Patent cited by the Patent：
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