Pat
J-GLOBAL ID：202403003424767265
解析装置、解析方法及び解析プログラム
Inventor：
,
,
,
Applicant, Patent owner：
,
Agent (1)：
弁理士法人高田・高橋国際特許事務所
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2022166967
Publication number (International publication number)：2024059345
Application date： Oct. 18, 2022
Publication date： May. 01, 2024
Summary：
【課題】電磁界解析における計算精度の低下を抑制しつつ、電磁界解析に必要な記憶容量を削減し、計算時間を短縮させる。
【解決手段】FDTD法を用いて電磁界解析を行う解析装置において、予め定められた設定条件に基づいて、放射波源を囲む解析領域の仮想表面に存在する全ボクセルの一部を間引く処理を行う間引き処理部と、間引き処理部が全ボクセルの一部を間引く処理を行った後に残るボクセルそれぞれの等価電流及び等価磁流を示すデータ、並びに、ボクセルごとに定められた媒質定数を記憶する記憶部と、間引き処理部が全ボクセルの一部を間引く処理を行った後に残るボクセルそれぞれに対し、記憶部が記憶しているボクセルそれぞれの等価電流、等価磁流及び媒質定数を用いて等価定理を適用し、解析領域の遠方界を計算する計算部とを有する。
【選択図】図4
Claim (excerpt)：
FDTD法を用いて電磁界解析を行う解析装置において、
予め定められた設定条件に基づいて、放射波源を囲む解析領域の仮想表面に存在する全ボクセルの一部を間引く処理を行う間引き処理部と、
前記間引き処理部が全ボクセルの一部を間引く処理を行った後に残るボクセルそれぞれの等価電流及び等価磁流を示すデータ、並びに、ボクセルごとに定められた媒質定数を記憶する記憶部と、
前記間引き処理部が全ボクセルの一部を間引く処理を行った後に残るボクセルそれぞれに対し、前記記憶部が記憶しているボクセルそれぞれの等価電流、等価磁流及び媒質定数を用いて等価定理を適用し、前記解析領域の遠方界を計算する計算部と
を有することを特徴とする解析装置。
IPC (1)：
FI (1)：
F-Term (2)：
Patent cited by the Patent：
Return to Previous Page
