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J-GLOBAL ID：202403004948876610

顕微鏡画像補正方法及び顕微鏡画像補正プログラム

Inventor： 松田 厚志 ,  根本 知己 ,  大友 康平 ,  高橋 泰伽
Applicant, Patent owner： 国立研究開発法人情報通信研究機構 ,  大学共同利用機関法人自然科学研究機構
Agent (1)： 弁理士法人深見特許事務所
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2022132546
Publication number (International publication number)：2024030022
Application date： Aug. 23, 2022
Publication date： Mar. 07, 2024
Summary：

【課題】顕微鏡で得られた原画像を補正して、より高いSN比を有する補正画像を算出することができる顕微鏡画像補正方法を提供する。 【解決手段】顕微鏡画像補正方法は、試料の原画像から試料の累乗根画像を算出するステップと、試料の累乗根画像から試料の累乗根画像の空間周波数スペクトルを算出するステップと、試料の累乗根画像の空間周波数スペクトルに高周波除去フィルタを掛けて、試料の累乗根画像の補正空間周波数スペクトルを算出するステップと、試料の累乗根画像の補正空間周波数スペクトルから試料の補正累乗根画像を算出するステップと、試料の補正累乗根画像から試料の補正画像を算出するステップとを備える。 【選択図】図4

Claim (excerpt)：

試料の原画像から前記試料の累乗根画像を算出するステップと、 前記試料の前記累乗根画像から前記試料の前記累乗根画像の空間周波数スペクトルを算出するステップと、 前記試料の前記累乗根画像の前記空間周波数スペクトルに高周波除去フィルタを掛けて、前記試料の前記累乗根画像の補正空間周波数スペクトルを算出するステップと、 前記試料の前記累乗根画像の前記補正空間周波数スペクトルから前記試料の補正累乗根画像を算出するステップと、 前記試料の前記補正累乗根画像から前記試料の補正画像を算出するステップとを備える、顕微鏡画像補正方法。

IPC (2)：

G02B 21/00 ,  G01N 21/64

FI (2)：

G02B21/00 ,  G01N21/64 E

F-Term (17)：

2G043AA03 ,  2G043EA01 ,  2G043FA01 ,  2G043HA01 ,  2G043HA02 ,  2G043HA09 ,  2G043JA02 ,  2G043LA03 ,  2G043NA01 ,  2H052AA07 ,  2H052AA09 ,  2H052AC04 ,  2H052AC15 ,  2H052AC34 ,  2H052AF14 ,  2H052AF21 ,  2H052AF25

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• 広視野高分解能顕微鏡
  Gazette classification：公表公報   Application number：特願2018-521998   Applicant：ハワードヒューズメディカルインスティテュート