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J-GLOBAL ID:202403020570811561

異常検出システム及び異常検出方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (3): 長谷川 芳樹 ,  黒木 義樹 ,  深石 賢治
Gazette classification:特許公報
Application number (International application number):2023025074
Patent number:7541675
Application date: Feb. 21, 2023
Summary:
【課題】 精度よく掘削等における異常を検出する。 【解決手段】 異常検出システム10は、異常を検出するシステムであって、第1のパラメータ及び第2のパラメータの事前準備用の測定値を取得する事前準備用取得部11と、事前準備用の測定値に基づいて、推定モデル及び異常の検出に用いる基準を生成する推定モデル生成部12と、第1のパラメータ及び第2のパラメータの異常検出用の測定値を取得する異常検出用取得部13と、生成された推定モデルを用いて、第1のパラメータの異常検出用の測定値から第2のパラメータの推定値を算出する推定値算出部14と、第2のパラメータの異常検出用の測定値と、第2のパラメータの推定値とを比較して、比較結果及び生成された基準に基づいて異常を検出する異常検出部15とを備える。 【選択図】 図1
Claim (excerpt):
【請求項1】 坑井の掘削における異常を検出する異常検出システムであって、 異常の検出対象である掘削とは異なる掘削である、当該異常の検出対象である掘削に係る坑井とは異なる坑井の掘削、又は当該異常の検出対象である掘削に係る坑井と同一の坑井の掘削における、第1のパラメータ及び第2のパラメータの、互いに対応する事前準備用の測定値を取得する事前準備用取得手段と、 前記事前準備用取得手段によって取得された測定値に基づいて、第1のパラメータの値から第2のパラメータの値を推定する推定モデル、及び異常の検出に用いる基準を生成する推定モデル生成手段と、 異常の検出対象における、第1のパラメータ及び第2のパラメータの、互いに対応する異常検出用の測定値を取得する異常検出用取得手段と、 前記推定モデル生成手段によって生成された推定モデルを用いて、前記異常検出用取得手段によって取得された第1のパラメータの測定値から第2のパラメータの推定値を算出する推定値算出手段と、 前記異常検出用取得手段によって取得された第2のパラメータの測定値と、前記推定値算出手段によって算出された第2のパラメータの推定値とを比較して、比較結果及び前記推定モデル生成手段によって生成された基準に基づいて異常の検出対象である掘削における異常を検出する異常検出手段と、を備え、 前記推定モデル生成手段は、生成した推定モデルを用いて、第1のパラメータの事前準備用の測定値から第2のパラメータの推定値を算出し、第2のパラメータの事前準備用の測定値と算出した第2のパラメータの推定値との比較に基づく比較値を算出して、当該比較値の分布から前記基準を生成する異常検出システム。
IPC (2):
E21B 47/00 ( 201 2.01) ,  E21B 44/02 ( 200 6.01)
FI (2):
E21B 47/00 ,  E21B 44/02
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)

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