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J-GLOBAL ID：200902277352474219   Reference number：07A0092047

Transistor Characteristic Evaluation Technology for Assembly Stress and Assembly Stress Relaxation Design

アセンブリ応力によるトランジスタ特性変動定量化技術と応力緩和構造

Author (7)： KOIKE KOJI (松下電器産業) ,  TAKEMURA KOJI (松下電器産業) ,  SANO HIKARI (松下電器産業) ,  ITO YUTAKA (松下電器産業) ,  TAKAHASHI MASAO (松下電器産業) ,  ISHIKAWA KAZUHIRO (松下電器産業) ,  HIRANO HIROSHIGE (松下電器産業)
Material： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
Volume： 106  Issue： 417(SDM2006 202-216)  Page： 83-87  Publication year： Dec. 07, 2006 
JST Material Number： S0532B  ISSN： 0913-5685  Document type： Proceedings
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *assembly process ,...

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JST classification (1)： Measurement,testing and reliability of solid-state devices  (NC03040G)

Reference (4)：

• SMITH, Charles S. Physical Review. 1954, 94, 43
• BRADLEY, Arthur T. IEEE Transactions on Electron Devices. 2001, 48, 2009
• MIZUNO, T. IEEE Transactions on Electron Devices. 1994, 41, 2216
• IZUMI, N. IEEE Transaction on Semiconductor Manufacturing. 2004, 17, 248

Terms in the title (5)： アセンブリ ,  応力 ,  トランジスタ ,  定量化 ,  応力緩和