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J-GLOBAL ID：200902037897374431   整理番号：85A0402619

有機半導体中の不純物分析 放射化分析による不純物の測定

Impurity analysis in organic semiconductor. Impurity determination by activation analysis.

著者 (8件)： 白川英樹 (筑波大物質工学系) ,  根本宏明 (筑波大物質工学系) ,  松下高志 (筑波大物質工学系) ,  竹原尚子 (筑波大物質工学系) ,  北垣高志 (筑波大物質工学系) ,  松山奉史 (京大原子炉実験所) ,  松下録治 (京大原子炉実験所) ,  山岡仁史 (京大原子炉実験所)
資料名： 京都大学原子炉実験所Technical Report KURRI-TR  (Technical Reports of the Research Reactor Institute, Kyoto University)
号： 263  ページ： 16-17  発行年： 1985年 
JST資料番号： S0280A  ISSN： 0287-9808  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： ポリアセチレンはアクセプタやドナーをドープするとその電気伝導...

シソーラス用語： 有機半導体 ,...

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分類 (2件)： 有機化合物の格子欠陥  (BK12060M) ,  有機物質の放射化学的分析一般  (CC06031W)

タイトルに関連する用語 (4件)： 有機半導体 ,  不純物 ,  分析 ,  放射化分析