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J-GLOBAL ID:201502274867566866   整理番号:15A0145829

Cu相互接続のキャッピング層用の新しいCVD/原子層堆積前駆体「Rudense」からのRu薄膜の特性化

Characterization of Ru thin films from a novel CVD/atomic layer deposition precursor “Rudense” for capping layer of Cu interconnects
著者 (7件):
資料名:
巻: 33  号:ページ: 01A133-01A133-4  発行年: 2015年01月 
JST資料番号: C0789B  ISSN: 0734-2101  CODEN: JVTAD6  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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非酸化条件下のCVD及び原子層堆積(ALD)工程用に,新しいRu前駆体,Ru(EtCp)(η<sup>5</sup>-CH<sub>2</sub>C(Me)CHC(Me)O)[Rudense],を開発することに成功した。Rudenseは十分な蒸気と良好な熱安定性(分解温度≒230°C)を有する。Ru前駆体にRudense,反応物質にNH<sub>3</sub>を用いて,Pt,Ru,Si,SiO<sub>2</sub>基板上にRu薄膜を成長させた。Rudenseは共形,低不純物(<10<sup>21</sup>原子/cc),低電気抵抗率(16μΩcm)のRu薄膜を与えた。また,Rudenseは基板選択性を示した。従って,RudenseはCu相互接続のRuキャッピング層の領域選択CVD及びALD前駆体の候補になり得る。(翻訳著者抄録)
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分類 (1件):
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薄膜成長技術・装置 

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