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J-GLOBAL ID：201602233966071061   整理番号：16A0410429

分極分析を持つ時間分解走査電子顕微鏡

Time-resolved scanning electron microscopy with polarization analysis

著者 (10件)： FROEMTER Robert (Inst. fuer Nanostruktur-und Festkoerperphysik, Universitaet Hamburg, Jungiusstrasse 11, 20355 Hamburg, DEU) ,  KLOODT Fabian (Inst. fuer Nanostruktur-und Festkoerperphysik, Universitaet Hamburg, Jungiusstrasse 11, 20355 Hamburg, DEU) ,  ROESSLER Stefan (Inst. fuer Nanostruktur-und Festkoerperphysik, Universitaet Hamburg, Jungiusstrasse 11, 20355 Hamburg, DEU) ,  FRAUEN Axel (Inst. fuer Nanostruktur-und Festkoerperphysik, Universitaet Hamburg, Jungiusstrasse 11, 20355 Hamburg, DEU) ,  STAECK Philipp (Inst. fuer Nanostruktur-und Festkoerperphysik, Universitaet Hamburg, Jungiusstrasse 11, 20355 Hamburg, DEU) ,  CAVICCHIA Demetrio R. (Inst. fuer Nanostruktur-und Festkoerperphysik, Universitaet Hamburg, Jungiusstrasse 11, 20355 Hamburg, DEU) ,  BOCKLAGE Lars (Deutsches Elektronen-Synchrotron DESY, Notkestrasse 85, 22607 Hamburg, DEU) ,  ROEBISCH Volker (Inst. for Materials Sci., Christian-Albrechts-Universitaet zu Kiel, 24143 Kiel, DEU) ,  QUANDT Eckhard (Inst. for Materials Sci., Christian-Albrechts-Universitaet zu Kiel, 24143 Kiel, DEU) ,  OEPEN Hans Peter (Inst. fuer Nanostruktur-und Festkoerperphysik, Universitaet Hamburg, Jungiusstrasse 11, 20355 Hamburg, DEU)
資料名： Applied Physics Letters  (Applied Physics Letters)
巻： 108  号： 14  ページ： 142401-142401-5  発行年： 2016年04月04日 
JST資料番号： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLAB  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： *走査電子顕微鏡 ,  *計測 ,  分極 ,  動力学 ,  *スピン分極 ,  電子回折 ,  分極反転 ,  スイッチング ,  磁区
準シソーラス用語： *時間分解法 ,  磁化ダイナミクス ,  磁化スイッチング ,  Kerr顕微鏡 ,  *スピン偏極

分類 (2件)： 磁区・磁化過程一般  (BM06111M) ,  電子顕微鏡,イオン顕微鏡  (BD02050B)

タイトルに関連する用語 (4件)： 分極 ,  分析 ,  分解 ,  走査電子顕微鏡