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J-GLOBAL ID:201602235199666756   整理番号:16A0774805

SSRFのためのバンチ-バイ-バンチビーム横方向フィードバックエレクトロニクスの設計と試験【Powered by NICT】

Design and testing of the bunch-by-bunch beam transverse feedback electronics for SSRF
著者 (5件):
資料名:
巻: 2016  号: RT  ページ: 1-3  発行年: 2016年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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上海シンクロトロン放射施設(SSRF)は,第三世代高ビーム電流(3.5GeV)シンクロトロン放射光源の一つである。SSRFのストレージリングにおいて,マルチバンチ不安定性は,ビームエミッタンスとエネルギー広がり,ビーム品質を劣化させ,ビーム損失を起こすを増加させるであろう。上記問題に対処するために,横方向フィードバックシステムはSSRFに不可欠である,重要な成分はバンチ-バイ-バンチ横方向フィードバックエレクトロニクスである。全フィードバックシステムは,五つの主要部分:BPM,RFフロントエンド,信号処理,RFアンプ,垂直/水平横方向キッカーから構成されている。論文は,設計した信号プロセッサ,フィードバックエレクトロニクスの主要部分であるに焦点を当てた。その性能・機能を評価するための信号処理装置上での初期試験を行った。ADC出力信号の典型的な周波数スペクトル解析(約100MHzの入力周波数)はSINAD(信号対雑音+歪比)は-63.69dBであり,ENOB(ビットの有効数)は10.3ビットであることを示した。異なる入力周波数とENOBの試験結果は,300MHzまでの入力周波数範囲にあり,応用に対して十分に良好な9.5ビットよりも良好であることを示した。に加えて,ハードウェアの試験結果とMATLABモデルの結果は,これは予想されたように機能性を達成したことを意味しているとよくconcord。Copyright 2016 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】
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分類 (1件):
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信号理論 

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