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J-GLOBAL ID：201602269322028353   整理番号：16A0639102

BIST/DUTコデザインを介した低オーバヘッドを有するプロセスに依存しない利得測定【Powered by NICT】

Process independent gain measurement with low overhead via BIST/DUT co-design

著者 (3件)： Jeong Jae Woong (School of Electrical, Computer, and Energy Engineering, Arizona State University, Tempe, AZ) ,  Kitchen Jennifer (School of Electrical, Computer, and Energy Engineering, Arizona State University, Tempe, AZ) ,  Ozev Sule (School of Electrical, Computer, and Energy Engineering, Arizona State University, Tempe, AZ)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2016  号： VTS  ページ： 1-6  発行年： 2016年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： オフチップRF信号解析は費用がかかるビルトインセルフテスト(BIST)は必須であり,特に無線周波(RF)デバイスのための,あるいは幾つかのケースで,実行不可能。二つの主要な問題は,RF BISTは不明確になった。,プロセス変動を予測し,測定の精度を制限するBIST回路挙動は難しくなる。第二に,特に性能劣化の点で,オーバヘッドはRF BISTは望ましくないものにさせる。本論文では,RF BIST利得測定のためのこれらの二つの問題を取り上げて論じた。相対利得測定を設定とBIST方法論と整合BIST回路を作成によって,測定精度に及ぼすプロセス変動の影響を抑制できることを示す。第二に,試験中の素子(DUT)と共にBIST回路をCo設計することにより,性能への影響は,軽減あるいは大幅に低減することができた。提案したアプローチを実証するために,本稿では,BIST回路と共にDUTとして低雑音増幅器(LNA)を設計した。も同一仕様を備えた独立LNAを設計し,同じダイに対するこれら二つの回路を作製した。LNA利得は非常に正確に測定,DC測定を用いてできることを示し,BIST回路の性能への影響は無視できた。Copyright 2016 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 低雑音増幅器 ,  *利得 ,  測定精度 ,  *BIST ,  コバルト
準シソーラス用語： 性能劣化 ,  プロセス変動 ,  ワイヤレス ,  RF信号 ,  コデザイン , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (4件)： 信号理論  (ND02020G) ,  音声処理  (JE05000E) ,  図形・画像処理一般  (JE04010I) ,  半導体集積回路  (NC03162T)

タイトルに関連する用語 (5件)： BIST ,  コデザイン ,  オーバヘッド ,  プロセス ,  利得測定