Landesberger C. について
Fraunhofer Research Institution for Microsystems and Solid State Technologies EMFT, 80686 Munich, Germany について
Palavesam N. について
Fraunhofer Research Institution for Microsystems and Solid State Technologies EMFT, 80686 Munich, Germany について
Hell W. について
Fraunhofer Research Institution for Microsystems and Solid State Technologies EMFT, 80686 Munich, Germany について
Drost A. について
Fraunhofer Research Institution for Microsystems and Solid State Technologies EMFT, 80686 Munich, Germany について
Faul R. について
Fraunhofer Research Institution for Microsystems and Solid State Technologies EMFT, 80686 Munich, Germany について
Gieser H. について
Fraunhofer Research Institution for Microsystems and Solid State Technologies EMFT, 80686 Munich, Germany について
Bonfert D. について
Fraunhofer Research Institution for Microsystems and Solid State Technologies EMFT, 80686 Munich, Germany について
Bock K. について
Technische Universitaet Dresden, 01069, Germany について
Kutter C. について
Fraunhofer Research Institution for Microsystems and Solid State Technologies EMFT, 80686 Munich, Germany について
IEEE Conference Proceedings について
積層板 について
信頼性解析 について
ポリイミド について
フォトリソグラフィー について
相互接続 について
機械的強度 について
フォトマスク について
電気試験 について
パターン形成 について
マイクロコントローラ について
適応性 について
フリップチップ法 について
ロバスト性 について
露光装置 について
ロール・ツー・ロール方式 について
データ保護 について
専用演算制御装置 について
パターン認識 について
箔 について
パッケージ について
再発 について
曲げ について
信頼性解析 について
IC について
埋め込み について
相互接続 について
手法 について