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J-GLOBAL ID:201602284460977569   整理番号:16A0843282

Cu/Sn/Agシステム低温過渡液相ボンディングの界面反応と機械特性

Interfacial reaction and mechanical properties for Cu/Sn/Ag system low temperature transient liquid phase bonding
著者 (15件):
資料名:
巻: 27  号:ページ: 4839-4848  発行年: 2016年05月 
JST資料番号: W0003A  ISSN: 0957-4522  CODEN: JMTSAS  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: ドイツ (DEU)  言語: 英語 (EN)
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低温過渡液相(LTTLP)ボンディングは,高温電子パッケージングを可能にする有望な技術である。ここでは,260から340°Cの範囲にわたる温度における種々の時間でのCu/Sn/AgシステムLTTLPボンディングの界面反応及び機械特性を調べた。実験結果から,CuとAg基板は,独立して,溶融スズと反応し,スカーラップCu6Sn5相がAg3Snと接触後は,片側のIMC成長は反対側のIMC層によって妨げられ,そして,三元合金相が全ての時間形成されないことが分かった。残留Snが完全に消費された後,細孔がCu6Sn5/Ag3Snまたは粒子境界に見つかり分布していた,しかし,Cu6Sn5相がCu3Sn相に変換する反応が継続すると共に徐々に消滅した。LTTLP接合の剪断強度は,ボンディング時間の増加と共に増加し,Cu6Sn5/Ag3Sn界面の接着強度は,Cu3Sn/Ag3Sn界面よりも弱かった。破断挙動も破壊モデルによって議論した。亀裂は細孔中で開始し,層状Cu3Sn,Cu6Sn5及びAg3Sn IMCからなる接合のCu6Sn5/Ag3Sn界面に沿って主に伝播した。しかし,故障経路は,Cu6Sn5アイランドが完全に転換した後,Cu3Sn層を介して通過した。Copyright 2016 The Author(s) Translated into Japanese from English by JST.
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分類 (1件):
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固体デバイス製造技術一般 

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