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J-GLOBAL ID:201702219066813309   整理番号:17A0407278

Zn添加によるPbフリーはんだ接合におけるサーモマイグレーション誘起Cu基質消費の抑制【Powered by NICT】

Retardation of thermomigration-induced Cu substrate consumption in Pb-free solder joints by Zn addition
著者 (5件):
資料名:
巻: 695  ページ: 1436-1443  発行年: 2017年 
JST資料番号: D0083A  ISSN: 0925-8388  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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マイクロはんだ接合における温度勾配による熱マイグレーション(TM)を,近年は3Dパッケージング技術のための重要な信頼性問題として認識されている。本研究では,Cu/Pbフリーはんだ/Cuはんだ接合における界面反応をシンクロトロン放射実時間イメージング技術により508°C/cmの模擬温度勾配下でその場観察した。コールド端での高温端と異常高速TM強化された金属間化合物(IMC)成長で重篤なTM誘導性Cu基板消費は,純SnおよびSnAgCuはんだ接合で観測された。しかし,はんだへのZnを導入することにより実現したTM誘導Cu基質消費とTM強化されたIMC成長の有意な遅延。Zn含有量が0wt%から9.0wt%に増加すると高温端Cu基板の溶解速度と低温端のIMCの成長速度は約三倍減少した。Zn添加によるTM抵抗の改善はホットエンドでのCu_5Zn_8またはCu_6(Sn,Zn)5IMCの形成,Cu原子の弱く拡散と低温端でIMC析出のための低下した駆動力に起因していた。Znの輸送Q*のモル熱は2.31kJ/molと計算された。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
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ろう付 

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