文献

J-GLOBAL ID：201702225895667875   整理番号：17A0322320

集束イオンビーム(FIB)トモグラフィーによるAA7075-T651におけるナノスケール析出物の3次元微細構造のキャラクタリゼーション【Powered by NICT】

Three dimensional microstructural characterization of nanoscale precipitates in AA7075-T651 by focused ion beam (FIB) tomography

著者 (4件)： Singh Sudhanshu S. (Materials Science and Engineering, Arizona State University, Tempe, AZ 85287-6106, USA) ,  Loza Jose J. (Materials Science and Engineering, Arizona State University, Tempe, AZ 85287-6106, USA) ,  Merkle Arno P. (Carl Zeiss X-ray Microscopy, Inc., Pleasanton, CA, USA) ,  Chawla Nikhilesh (Materials Science and Engineering, Arizona State University, Tempe, AZ 85287-6106, USA)
資料名： Materials Characterization  (Materials Characterization)
巻： 118  ページ： 102-111  発行年： 2016年 
JST資料番号： D0448C  ISSN： 1044-5803  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 7075アルミニウム合金中の析出物のサイズと分布は,合金の機械的および腐食挙動(応力腐食割れと疲労腐食を含む)の両方に影響を与える。三次元(3D)定量的ミクロ組織解析ピーク時効条件(T651)におけるAl7075がこれらの挙動のより良い理解を可能にした。本研究では,集束イオンビーム(FIB)トモグラフィーは三次元の微細構造を特性化した。結晶粒と析出物の解析は,体積,サイズ,および形態の観点から行った。粒界における析出物が結晶粒界での析出物の初期核形成に起因して,結晶粒内の析出物と比較してアスペクト比と最大Feret直径で高く,サイズの大きいことが分かった。粒とMg_2Si介在物の間の界面での析出物に関する著者らのデータは,介在物(不純物)粒子の表面は析出物の不均一核形成の位置として働くことを示した。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： 結晶粒 ,  アルミニウム合金 ,  介在物 ,  *三次元 ,  結晶粒界 ,  界面 ,  核形成 ,  応力腐食割れ ,  *析出物 ,  不純物 ,  *キャラクタリゼーション ,  *集束イオンビーム ,  アスペクト比
準シソーラス用語： *ナノスケール ,  *AA7075 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (4件)： AA7075-T651 ,  Precipitates ,  Grains ,  集束イオンビーム(FIB)

分類 (1件)： 金属組織観察法  (WB01010R)

タイトルに関連する用語 (9件)： 集束イオンビーム ,  FIB ,  トモグラフィー ,  AA7075 ,  ナノスケール ,  析出物 ,  3次元 ,  微細構造 ,  キャラクタリゼーション