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J-GLOBAL ID：201702230219426335   整理番号：17A0415793

分布帰還形ファイバレーザ及びビート周波数技術を用いた高分解能静的歪測定【Powered by NICT】

High resolution static strain measurement using distributed feedback fiber laser and beat frequency technique

著者 (4件)： Shengwen Feng (Optoelectronic System Laboratory, Institute of Semiconductors, Chinese Academy of Sciences, Beijing, 100083, China) ,  Zhang Wentao (Optoelectronic System Laboratory, Institute of Semiconductors, Chinese Academy of Sciences, Beijing, 100083, China) ,  Huang Wenzhu (Optoelectronic System Laboratory, Institute of Semiconductors, Chinese Academy of Sciences, Beijing, 100083, China) ,  Li Fang (Optoelectronic System Laboratory, Institute of Semiconductors, Chinese Academy of Sciences, Beijing, 100083, China)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2016  号： ICOCN  ページ： 1-3  発行年： 2016年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 分布帰還形ファイバレーザ(DFB FLs)とビート周波数技術を用いた高分解能静的歪測定システムを実証した。センサヘッドに使用されている二つの独立したファイバレーザ。一つのファイバレーザを用いて歪を感知し,他の一つは応力フリーおよび参照として用いた。インタロゲーションシステムでは,センサヘッドにおける二つのファイバレーザのビートノートを生成する第三ファイバレーザ。二ファイバレーザのビート周波数差を検出し,歪を計算することができる。実験結果は,静的歪分解能は0.25ナノ歪(nε)よりも優れていることを示した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *ファイバレーザ ,  計測システム ,  周波数 ,  *分解能 ,  *高分解能 ,  *フィードバック ,  *歪測定

分類 (2件)： 固体レーザ  (BD04080W) ,  光導波路,光ファイバ,繊維光学  (BD06030H)

タイトルに関連する用語 (6件)： 分布 ,  帰還 ,  ファイバレーザ ,  ビート ,  高分解能 ,  歪測定