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J-GLOBAL ID：201702243620058746   整理番号：17A0822408

Si-コア/SiO_x-シェルナノワイヤの構造特性と光学特性

Structural and Optical Properties of Si-Core/SiO_x-Shell Nanowires

著者 (6件)： THUY Nguyen Thi (Hanoi Univ. Sci. and Technol.(HUST), Hanoi, VNM) ,  THO Do Duc (Hanoi Univ. Sci. and Technol.(HUST), Hanoi, VNM) ,  TU Nguyen Cong (Hanoi Univ. Sci. and Technol.(HUST), Hanoi, VNM) ,  VUONG Dang Duc (Hanoi Univ. Sci. and Technol.(HUST), Hanoi, VNM) ,  CHIEN Nguyen Duc (Hanoi Univ. Sci. and Technol.(HUST), Hanoi, VNM) ,  LAM Nguyen Huu (Hanoi Univ. Sci. and Technol.(HUST), Hanoi, VNM)
資料名： Journal of Electronic Materials  (Journal of Electronic Materials)
巻： 46  号： 6  ページ： 3422-3426  発行年： 2017年06月 
JST資料番号： D0277B  ISSN： 0361-5235  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： Si-コア/SiO_x-シェルナノワイヤー(NW)を,蒸気-液体-固体(VLS)技術を用いてSi(111)表面上に合成した。厚さ2nmのAu層を,金属触媒として電子ビーム蒸着によって堆積した。900°CでアニールしてAuナノ粒子を形成し,その後1150°C,30分のVLS成長でNWを形成した。走査電子顕微鏡法,透過型電子顕微鏡法,X線回折法,およびRaman分光法により,Si-コア/SiO_x-シェル構造のNWを調べた。TEMおよびXRDにより,SiO_xアモルファスシェルで覆われたナノスケールSiコアの構造を明らかにした。Si/_SiOx界面の不完全性により,NWのRamanピークがより低い波数にシフトし,400nmから650nmの波長範囲にフォトルミネッセンス(PL)が広がった。PLスペクトルの赤いピークから,NWの直径減少による量子閉じ込め効果を実証した。

シソーラス用語： *酸化ケイ素 ,  *シェル ,  *ケイ素 ,  *中心核 ,  *ナノワイヤ ,  VLS成長 ,  *光学的性質 ,  ナノ粒子 ,  量子閉込め
準シソーラス用語： Auナノ粒子 ,  *コア ,  *シリコン ,  *光学特性 ,  *酸化シリコン

分類 (2件)： 曲板  (HD03070K) ,  半導体のルミネセンス  (BM08092S)

タイトルに関連する用語 (6件)： Si ,  コア ,  シェル ,  ナノワイヤ ,  構造特性 ,  光学特性