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J-GLOBAL ID:201702244627628143   整理番号:17A0641927

水素発生反応のための単層VS2基底面の電極触媒活性における固有欠陥の役割

The Role of Intrinsic Defects in Electrocatalytic Activity of Monolayer VS2 Basal Planes for the Hydrogen Evolution Reaction
著者 (7件):
資料名:
巻: 121  号:ページ: 1530-1536  発行年: 2017年01月26日 
JST資料番号: W1877A  ISSN: 1932-7447  CODEN: JPCCCK  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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水素発生反応(HER)経由の電気化学的水分解は,水素分子(H2)を生成する持続可能な方法であり,最も有望なクリーンエネルギーソリューションの1つとして提案されている。半導体MoS2と異なり,2H相の単層VS2は金属特性を示し,HER電極触媒に適する可能性がある。本研究では,単層VS2基底面における2Hおよび1T相の固有欠陥の幾何学的および安定性について系統的に研究した。密度汎関数理論(DFT)計算を用いてHER活性を調べた。生成エネルギー計算結果は,2H相に4種類の安定な固有欠陥(Sad,Svac,Vad,Vs)が存在し,1T相に3種類の安定な固有欠陥(Sad,Svac,Vad)の存在を示した。ΔGH計算結果は,2H相にSvac,Vad,およびVs構造が形成され,1T相のVad構造がVS2基底面のHER活性を改善することを示唆した。これはVS2合成において,高HER性能触媒を助長するVリッチレジームを維持するべきことを意味する。電子構造の解析に基づき,初期および欠陥VS2構造のHER活性はFermi-abundanceモデルによって合理的に理解できることが分った。
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分類 (3件):
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電気化学反応  ,  金属酸化物及び金属カルコゲン化物の結晶構造  ,  化合物の化学熱力学(純物質) 

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