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J-GLOBAL ID：201702256916813785   整理番号：17A0240771

低電力回路の試験:課題と産業への適用【Powered by NICT】

Test of low power circuits: Issues and industrial practices

著者 (3件)： Bosio A. (LIRMM - University of Montpellier / CNRS, Montpellier, France) ,  Girard P. (LIRMM - University of Montpellier / CNRS, Montpellier, France) ,  Virazel A. (LIRMM - University of Montpellier / CNRS, Montpellier, France)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2016  号： ICECS  ページ： 524-527  発行年： 2016年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 回路とシステムの電力消費を管理機能作業中のみならず製造試験中の困難な課題である。本論文では,この分野における工業的実施について論じた。は三つの主要部分で構成されている。最初に,必要な背景を与え,試験適用中の過度の電力消費から生じる問題を議論した。テスト電力を低減するための工業的実践の概観を提供した。最後に業界で使用されている低電力設計技術を概観し,これらの低パワーデバイスは歩留りと信頼性に影響することなく安全に試験できるかを示した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 信頼性 ,  安全性 ,  *電力消費 ,  製造試験 ,  歩留り
準シソーラス用語： パワーデバイス ,  *低電力化 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 半導体集積回路  (NC03162T) ,  集積回路一般  (NC03161C)

タイトルに関連する用語 (3件)： 低電力 ,  試験 ,  産業