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J-GLOBAL ID：201702281635960237   整理番号：17A0524613

走査型プローブエネルギー損失分光法用の近接減速場分析器

A proximal retarding field analyzer for scanning probe energy loss spectroscopy

著者 (3件)： BAUER Karl (Univ. Birmingham, Birmingham, GBR) ,  MURPHY Shane (Univ. Birmingham, Birmingham, GBR) ,  PALMER Richard E (Univ. Birmingham, Birmingham, GBR)
資料名： Nanotechnology  (Nanotechnology)
巻： 28  号： 10  ページ： 105711,1-8  発行年： 2017年03月10日 
JST資料番号： W0108A  ISSN： 0957-4484  CODEN： NNOTER  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 商業走査型トンネル顕微鏡(STM)における走査型プローブエネルギー損失分光(SPELS)測定のためのコンパクトで容易に実施できる近接減速場分析器(RFA)を実証した。視射角で試料表面近くに位置付けし,STMチップからの電界放出電子と共に使用するとき,分解能25nmの材料コントラストを,高配向性熱分解グラファイト(HOPG)上の電子ビームリソグラフィー(EBL)によって生成するAgナノ構造の電子反射率画像でごく普通に観察できた。材料コントラストに加えて,エッジ強調とシャドーイングなどの位相コントラストも観察した。

シソーラス用語： 走査型プローブ顕微鏡 ,  *電子エネルギー損失分光法 ,  近接場 ,  *分析機器 ,  *走査型トンネル顕微鏡 ,  傾斜角 ,  コントラスト ,  高配向性熱分解グラファイト ,  電子ビームリソグラフィー ,  ナノ粒子 ,  ナノ構造 ,  反射率 ,  画像 ,  影効果 ,  位相 ,  減速 ,  電界放出 ,  分解能 ,  画像強調 ,  銀 ,  銀ナノ粒子 ,  シャドーイング
準シソーラス用語： エッジ強調

分類 (2件)： 電子分光スペクトル  (BM09060K) ,  分析機器  (CC02020S)

タイトルに関連する用語 (6件)： 走査型 ,  プローブ ,  エネルギー損失 ,  分光法 ,  減速 ,  分析器