Huang Qianqian について
Key Laboratory of Microelectronic Devices and Circuits (MOE), Institute of Microelectronics, Peking University, Beijing 100871, China について
Jia Rundong について
Key Laboratory of Microelectronic Devices and Circuits (MOE), Institute of Microelectronics, Peking University, Beijing 100871, China について
Zhu Jiadi について
Key Laboratory of Microelectronic Devices and Circuits (MOE), Institute of Microelectronics, Peking University, Beijing 100871, China について
Key Laboratory of Microelectronic Devices and Circuits (MOE), Institute of Microelectronics, Peking University, Beijing 100871, China について
Wang Jiaxin について
Key Laboratory of Microelectronic Devices and Circuits (MOE), Institute of Microelectronics, Peking University, Beijing 100871, China について
Chen Cheng について
Key Laboratory of Microelectronic Devices and Circuits (MOE), Institute of Microelectronics, Peking University, Beijing 100871, China について
Zhao Yang について
Key Laboratory of Microelectronic Devices and Circuits (MOE), Institute of Microelectronics, Peking University, Beijing 100871, China について
Wang Runsheng について
Key Laboratory of Microelectronic Devices and Circuits (MOE), Institute of Microelectronics, Peking University, Beijing 100871, China について
Bu Weihai について
Semiconductor Manufacturing International Corporation (SMIC), Shanghai 201203 and Beijing 100176, China について
Wang Wenbo について
Semiconductor Manufacturing International Corporation (SMIC), Shanghai 201203 and Beijing 100176, China について
Kang Jin について
Semiconductor Manufacturing International Corporation (SMIC), Shanghai 201203 and Beijing 100176, China について
Hua Kelu について
Semiconductor Manufacturing International Corporation (SMIC), Shanghai 201203 and Beijing 100176, China について
Wu Hanming について
Semiconductor Manufacturing International Corporation (SMIC), Shanghai 201203 and Beijing 100176, China について
Yu Shaofeng について
Semiconductor Manufacturing International Corporation (SMIC), Shanghai 201203 and Beijing 100176, China について
Wang Yangyuan について
Key Laboratory of Microelectronic Devices and Circuits (MOE), Institute of Microelectronics, Peking University, Beijing 100871, China について
Huang Ru について
Key Laboratory of Microelectronic Devices and Circuits (MOE), Institute of Microelectronics, Peking University, Beijing 100871, China について
IEEE Conference Proceedings について
電場 について
バイアス について
MOSFET について
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絶縁破壊 について
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同時最適化 について
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