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J-GLOBAL ID：200902167735572397   整理番号：02A0471280

偏光干渉による紫外領域サブピコ秒光パルスのパルス幅測定

著者 (3件)： 数井賢治 (JST-ERATO) ,  南部芳弘 (NEC 基礎研) ,  富田章久 (JST-ERATO)
資料名： 応用物理学関係連合講演会講演予稿集  (Extended Abstracts. Spring Meeting. Japan Society of Applied Physics and Related Societies)
巻： 49th  号： 3  ページ： 1068  発行年： 2002年03月27日 
JST資料番号： Y0054A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *偏光測定 ,...
準シソーラス用語： サブピコ秒

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分類 (1件)： 偏光測定と偏光計  (BD07050K)

タイトルに関連する用語 (4件)： 偏光干渉 ,  紫外領域 ,  サブ ,  パルス幅