文献

J-GLOBAL ID：200902172353564940   整理番号：95A1037115

電子ビーム誘起電流(EBIC)法による量子構造のポテンシャル分布評価

Characterization of potential distribution in quantum structures by EBIC technique.

著者 (4件)： 橋詰保 (北大 工) ,  岡田浩 (北大 工) ,  葛西誠也 (北大 工) ,  長谷川英機 (北大 工)
資料名： 応用物理学会学術講演会講演予稿集  (Extended Abstracts. Annual Meeting. Japan Society of Applied Physics)
巻： 56th  号： 3  ページ： 1056  発行年： 1995年08月 
JST資料番号： Y0055A  資料種別： 会議録 (C)
発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

タイトルに関連する用語 (7件)： 電子ビーム ,  誘起 ,  EBIC ,  法 ,  量子構造 ,  ポテンシャル分布 ,  評価