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J-GLOBAL ID：200902219093914884   整理番号：09A0534185

統計的タイミング情報に基づく適応型テスト

著者 (8件)： 新谷道広 (半導体理工学研究セ) ,  高橋知之 (東京工大 統合研究院) ,  植山寛之 (東京工大 統合研究院) ,  上薗巧 (東京工大 統合研究院) ,  佐藤高史 (東京工大 統合研究院) ,  畠山一実 (半導体理工学研究セ) ,  相京隆 (半導体理工学研究セ) ,  益一哉 (東京工大 統合研究院)
資料名： 電子情報通信学会大会講演論文集  (電子情報通信学会ソサイエティ大会講演論文集)
巻： 2009  号： 情報・システム1  ページ： 159  発行年： 2009年03月04日 
JST資料番号： G0508A  ISSN： 1349-1369  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 本稿では,統計的タイミング情報を用いた適応型テストフローを提案した。提案フローは,チップ毎に適切なテストパス選択を行うため,高精度なディレイテストが可能である。実験結果にて,プロセスパラメータが変化すると,パスの遅延値の順位が変動することをシミュレーションにより示した。高精度なディレイテストを行うために,提案フローは有効である。提案フロー実現のため,有効なパスクラスタリング手法の考案が必須である。(著者抄録)

シソーラス用語： *回路試験 ,  *統計解析 ,  情報 ,  遅れ ,  プロセスパラメータ ,  半導体チップ ,  計算機シミュレーション ,  精度 ,  クラスタ化 ,  適応性 ,  計算機利用 ,  利用 ,  改変
準シソーラス用語： クラスタリング ,  遅延 ,  遅延試験 ,  統計的タイミング情報

分類 (2件)： 品質検査  (KB04020L) ,  システム・制御理論一般  (IA02010H)

タイトルに関連する用語 (2件)： 統計 ,  テスト