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J-GLOBAL ID：200902231347601725   整理番号：06A0004557

超薄膜を試料保持材とする蛍光X線分析における測定配置の検討

著者 (4件)： 辻幸一 (大阪市大 大学院) ,  辻幸一 (JST-PRESTO) ,  OKHRIMOVSKYY Andriy (大阪市大 大学院) ,  森山孝男 (理学電機)
資料名： 分析化学討論会講演要旨集  (分析化学)
巻： 66th  ページ： 215  発行年： 2005年04月30日 
JST資料番号： X0009A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *蛍光X線分析 ,...

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分類 (1件)： その他の物理分析  (CC03014E)

タイトルに関連する用語 (4件)： 超薄膜 ,  試料 ,  保持材 ,  蛍光X線分析