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J-GLOBAL ID：200902238619452850   整理番号：07A1015290

電荷制御型InAs量子ドットの磁気分光測定

著者 (8件)： 桐原明宏 (NEC ナノエレ研) ,  河野俊介 (NEC ナノエレ研) ,  藤方潤一 (NEC ナノエレ研) ,  大河内俊介 (NEC ナノエレ研) ,  大河内俊介 (産業技術総合研) ,  富田章久 (NEC ナノエレ研) ,  富田章久 (JST-SORST) ,  萬伸一 (NEC ナノエレ研)
資料名： 応用物理学会学術講演会講演予稿集  (Extended Abstracts. Annual Meeting. Japan Society of Applied Physics)
巻： 68th  号： 3  ページ： 1413  発行年： 2007年09月04日 
JST資料番号： Y0055A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *ヒ化インジウム ,...

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分類 (1件)： 半導体のルミネセンス  (BM08092S)

タイトルに関連する用語 (5件)： 電荷 ,  制御型 ,  InAs量子ドット ,  磁気 ,  分光測定