文献

J-GLOBAL ID：200902275827423115   整理番号：07A0239072

斜出射PIXE法による微小部の表面・薄膜測定

著者 (7件)： 辻幸一 (阪市大 大学院) ,  辻幸一 (JST-PRESTO) ,  中野和彦 (阪市大 大学院) ,  中野和彦 (JST-PRESTO) ,  OKHRIMOVSKYY Andriy (阪市大 大学院) ,  酒井卓郎 (原子力機構 高崎研) ,  山本春也 (原子力機構 高崎研)
資料名： 分析化学討論会講演要旨集  (分析化学)
巻： 67th  ページ： 122  発行年： 2006年04月29日 
JST資料番号： X0009A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *PIXE分析 ,...

   続きはJDreamIII（有料）にて  {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=07A0239072&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=X0009A") }}

分類 (2件)： その他の物理分析  (CC03014E) ,  金属薄膜  (BK14030T)

タイトルに関連する用語 (3件)： PIXE法 ,  微小 ,  薄膜