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J-GLOBAL ID：201102294516762857   整理番号：11A0993951

走査プローブ顕微鏡を使いこなす 6 近接場光学顕微鏡(SNOM)を使いこなす

著者 (1件)： 井村考平 (早稲田大 先進理工)
資料名： 化学と工業  (Chemistry & Chemical Industry)
巻： 64  号： 6  ページ： 470-471  発行年： 2011年06月01日 
JST資料番号： F0107A  ISSN： 0022-7684  CODEN： KAKTAF  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 文献レビュー  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 近接場光学顕微鏡は,ナノスケールの光を使う走査型プローブ顕微鏡である。試料を透過した光,また試料からの発光を分光分析することで,試料の化学特性を数十nmの空間分解能で明らかにすることができる。また,パルス光を使うことで,高速現象をとらえることもできる。最初の装置が市販されてから10年以上が経ち,今では共通機器として公開しているところもある。しかし,他の走査プローブ顕微鏡と比べると,必ずしも一般的な分析ツールとなっていない。本稿では,近接場光学顕微鏡を使いこなすための基礎と注意点について解説する。(著者抄録)

シソーラス用語： *走査型プローブ顕微鏡 ,  *走査光学顕微鏡 ,  空間分解能 ,  発光分析 ,  高速化 ,  *近接場光学顕微鏡 ,  パルス光
準シソーラス用語： 発光分光分析法

分類 (1件)： 顕微鏡法  (BK01040E)

引用文献 (3件)：

• NOVOTNY, L. Principles of Nano-Optics. 2006
• IMURA, K. Bull. Chem. Soc. Jpn. 2008, 81, 659
• SAKAMOTO, A. J. Phys. Chem. C. 2011, 115, 6190

タイトルに関連する用語 (3件)： 走査プローブ顕微鏡 ,  近接場光学顕微鏡 ,  SNOM