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J-GLOBAL ID：201202212816100199   整理番号：12A1575022

レーザーイオン化SIMSによるディーゼル微粒子分析

著者 (4件)： 三澤健太郎 (東京工大 資源化研) ,  坂本哲夫 (工学大 工) ,  藤谷雄二 (環境研) ,  藤井正明 (東京工大 資源化研)
資料名： 日本分析化学会年会講演要旨集  (分析化学講演要旨集)
巻： 61st  ページ： 32  発行年： 2012年09月05日 
JST資料番号： G0563B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *二次イオン質量分析 ,  *微粒子 ,  レーザ脱離質量分析 ,  集束イオンビーム ,  *芳香族縮合化合物 ,  芳香族縮合炭化水素 ,  *ディーゼル排気微粒子 ,  TOF-MS
準シソーラス用語： *ディーゼル微粒子 ,  飛行時間型質量分析法

分類 (2件)： 有機化合物の物理分析  (CC03034A) ,  粒状物調査測定  (SB03060E)

物質索引 (1件)： ピレン

タイトルに関連する用語 (5件)： レーザー ,  イオン化 ,  SIMS ,  ディーゼル微粒子 ,  分析