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J-GLOBAL ID：201202245208985353   整理番号：12A0100488

Fe₃Si/Siショットキー障壁を介したスピン注入の電気的検出

著者 (8件)： 安藤裕一郎 (九大 大学院) ,  笠原健司 (九大 大学院) ,  榎本雄志 (九大 大学院) ,  浜屋宏平 (九大 大学院) ,  浜屋宏平 (JST-さきがけ) ,  木村崇 (九大 稲盛セ) ,  澤野憲太郎 (東京都市大 総研) ,  宮尾正信 (九大 大学院)
資料名： 日本磁気学会学術講演概要集  (Abstracts. Annual Conference on Magnetics in Japan)
巻： 33rd  ページ： 392  発行年： 2009年09月12日 
JST資料番号： Y0056A  ISSN： 1882-2959  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： フェロシリコン ,  ケイ素 ,  *Schottky障壁 ,  注入 ,  検出 ,  *電子検出
準シソーラス用語： ケイ素鉄 ,  *スピン注入

分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (3件)： Si ,  ショットキー障壁 ,  スピン注入