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J-GLOBAL ID：201202292107999327   整理番号：12A0939753

陽電子によるフッ素系高分子電解質膜の劣化評価

著者 (6件)： 誉田義英 (大阪大 産科研) ,  青柳嘉一 (大阪大 産科研) ,  藤乗幸子 (大阪大 産科研) ,  渡辺岳 (大阪大) ,  秋山庸子 (大阪大) ,  西嶋茂宏 (大阪大)
資料名： KURRI-KR (CD) (CD-ROM)  (KURRI-KR (CD) (CD-ROM))
号： 34  ページ： ROMBUNNO.11  発行年： 2011年 
JST資料番号： L5681A  ISSN： 1349-7960  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *高分子膜 ,  固体高分子形燃料電池 ,  *陽電子消滅 ,  フッ素化重合体 ,  耐久性 ,  フッ素樹脂 ,  陽イオン交換樹脂 ,  劣化 ,  *高分子電解質膜 ,  酸化劣化
準シソーラス用語： Aquivion ,  Nafion

分類 (2件)： 有機化合物の薄膜  (BK14070L) ,  陽電子消滅  (BK16052L)

タイトルに関連する用語 (4件)： 陽電子 ,  フッ素系高分子 ,  電解質膜 ,  評価