特許
J-GLOBAL ID：201203085488655040

複数マッハツェンダー干渉計を有する光変調器の特性評価方法

発明者：
川西 哲也

川西 哲也 について

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中島 慎也

中島 慎也 について

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品田 聡

品田 聡 について


出願人/特許権者：
独立行政法人情報通信研究機構

独立行政法人情報通信研究機構 について


代理人 (1件)： 廣瀬 隆行
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-085290
公開番号（公開出願番号）：特開2012-168185
出願日： 2012年04月04日
公開日（公表日）： 2012年09月06日
要約：
【課題】複数のMZ干渉計を含む光変調器における個々のMZ干渉計の特性を評価する方法を提供する。【解決手段】光変調器1は、第1のMZ干渉計2と第2のMZ干渉計3を含み第1のMZ干渉計2は分波部5と、2つのアーム6,7と合波部8と電極を含む。2つのアームは分波部と接続され、合波部は2つのアームと接続され、電極は2つのアームにバイアス電圧を印加でき、電極は2つのアームに変調信号を印加でき、MZ干渉計に駆動信号を印加し、MZ干渉計の2つのアームから出力される光の位相差をπかあるいは0となるようにバイアス電圧を調整し、バイアス電圧が調整された後MZ干渉計の出力強度のうち2次成分のサイドバンド成分の強度を用いてMZ干渉計の特性を評価する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
マッハツェンダー干渉計(MZ干渉計)を含む,光変調器の特性を評価する方法であって, 前記MZ干渉計は,分波部と,2つのアームと,合波部と,電極とを含み, 前記2つのアームは,前記分波部と接続され, 前記合波部は,前記2つのアームと接続され, 前記電極は,前記2つのアームにバイアス電圧を印加でき, 前記電極は,前記2つのアームに変調信号を印加でき,
IPC (2件)：
G01M 11/00 ,  G02F 1/01
FI (2件)：
G01M11/00 T ,  G02F1/01 Z
Fターム (11件)：
2G086EE07 ,  2H079AA02 ,  2H079AA12 ,  2H079BA01 ,  2H079BA03 ,  2H079CA04 ,  2H079EA05 ,  2H079FA02 ,  2H079GA03 ,  2H079HA11 ,  2H079KA18
引用特許：
出願人引用 (2件)
  • 特許第3538619号公報
  • 特許第3866082号公報
審査官引用 (9件)
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引用文献：
審査官引用 (1件)

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