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J-GLOBAL ID：201402298917307840   整理番号：14A0504730

ナノパームポロメトリー法によるY型膜の緻密性評価とそのプロピレン/プロパン透過分離特性

著者 (6件)： 松方正彦 (早大 先進理工) ,  松方正彦 (早大 理工総研) ,  松方正彦 (JST-CREST) ,  伴野泰介 (早大 先進理工) ,  佐々木康人 (早大 先進理工) ,  酒井求 (早大 先進理工)
資料名： 化学工学会年会研究発表講演要旨集(CD-ROM)  (化学工学会年会(CD-ROM))
巻： 79th  ページ： ROMBUNNO.SB2P29  発行年： 2014年02月18日 
JST資料番号： X0547B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *ガス分離 ,  混合気体 ,  膜分離 ,  膜透過 ,  細孔径分布 ,  Yゼオライト ,  *薄膜 ,  空隙率 ,  分離係数 ,  アルケン ,  アルカン ,  *ゼオライト膜

分類 (1件)： 膜分離  (XD02120Z)

物質索引 (2件)： プロピレン ,  プロパン

タイトルに関連する用語 (6件)： 緻密性 ,  評価 ,  プロピレン ,  プロパン ,  透過 ,  分離特性