HTS薄膜における臨界電流密度の誘導性計測法の数値シミュレーション:DC磁場が精度に及ぼす影響

TAKAYAMA Teruou; KAMITANI Atsushi

文献

J-GLOBAL ID：200902226781308137 整理番号：09A0947413

HTS薄膜における臨界電流密度の誘導性計測法の数値シミュレーション:DC磁場が精度に及ぼす影響

Numerical Simulation of Inductive Measurement Method for Critical Current Density in HTS Thin Film: Influence of DC Magnetic Field on Accuracy

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巻： 19 号： 3,Pt.3 ページ： 3573-3576 発行年： 2009年06月
JST資料番号： W0177A ISSN： 1051-8223 CODEN： ITASE9 資料種別：逐次刊行物 (A)
発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

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