特許
J-GLOBAL ID：201003023640945741

反例解析支援装置、反例解析支援システム、それらの反例解析支援方法及びプログラム

発明者：
野田 夏子

野田 夏子 について


出願人/特許権者：
日本電気株式会社

日本電気株式会社 について


代理人 (1件)： 丸山 隆夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-051093
公開番号（公開出願番号）：特開2010-205066
出願日： 2009年03月04日
公開日（公表日）： 2010年09月16日
要約：
【課題】モデル検査を用いたシステムの検証において、ひとつの反例から不具合の原因を特定するのが困難である。【解決手段】生成される複数の反例を集積し、集積された複数の反例を解析して、最も多くの反例に現れるプロセスと最も多くの反例に現れる処理を出力する。(これらの最も多くの反例に現れるプロセス・処理は不具合の原因である可能性が高い。)【選択図】図1
請求項（抜粋）：
入力された複数の処理を有するシステムの動作仕様もしくはシステムの動作仕様と外部環境を示すモデルと、モデルが満たすべき性質を示す検証項目と、を参照して、前記モデルが前記検証項目を満たすか否かを検査して、前記モデルが前記検証項目を満たしていないと1つ以上の反例を生成するモデル検査手段と、 一つのモデルと一つの検証項目に対して前記モデル検査手段が生成した複数の反例を集積し、保存する反例集積手段と、 集積された複数の反例を解析し、最も多くの反例に現れる処理を求める反例解析手段と、 前記反例解析手段で求められた処理を特定する情報を出力する出力手段と、を備えることを特徴とする反例解析支援装置。
IPC (2件)：
G06F 11/36 ,  G06F 17/50
FI (2件)：
G06F9/06 620M ,  G06F17/50 664Z
Fターム (4件)：
5B046AA08 ,  5B046JA01 ,  5B376BC02 ,  5B376BC61
引用特許：
審査官引用 (6件)
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引用文献：
審査官引用 (2件)
  • 産業用コントローラに対するモデル検査適用事例, 20080904
  • 産業用コントローラに対するモデル検査適用事例, 20080904

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