特許

J-GLOBAL ID：201103042448311994

微粒子分析装置

発明者： 安田 賢二 ,  武田 一男 ,  梅村 晋一郎
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 作田 康夫 (外1名)
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-114917
公開番号（公開出願番号）：特開平7-318476
特許番号：特許第3260550号
出願日： 1994年05月27日
公開日（公表日）： 1995年12月08日
請求項（抜粋）：

【請求項1】微粒子を含む流体が流動する流路と,前記微粒子を前記流路の中心部に集める濃縮手段と,前記中心部の下流で前記流体に交流電場を印加して前記微粒子を振動させる電場印加手段と,前記交流電場が印加される領域で,前記微粒子に光を照射する光照射手段と,振動する前記微粒子の移動速度又は位置を検出する検出手段とを有することを特徴とする微粒子分析装置。

IPC (4件)：

G01N 15/00 ,  G01N 15/06 ,  G01N 15/10 ,  G01N 27/26

FI (4件)：

G01N 15/00 Z ,  G01N 15/06 E ,  G01N 15/10 Z ,  G01N 27/26 P

引用特許：

出願人引用 (6件)

• 微粒子計測装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-025131   出願人：株式会社日立製作所, 日立電子エンジニアリング株式会社
• 特開昭64-003541
  
• 粒子濃度測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-164214   出願人：株式会社日立製作所
• 特開平4-155244
  
• 特開平4-188043
  
• 特開平1-296136