特許
J-GLOBAL ID：201303023158460341
蛍光測定法と、蛍光測定のための測定用チップ及びその製造方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
斉藤 達也
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-276399
公開番号（公開出願番号）：特開2008-096189
特許番号：特許第5110254号
出願日： 2006年10月10日
公開日（公表日）： 2008年04月24日
請求項（抜粋）：
【請求項1】基板に多孔質膜を配置した後、前記多孔質膜における前記基板と反対側の面に、少なくとも銀を含有する貴金属層を配置することにより、測定用チップを製造する工程と、
前記測定用チップの前記貴金属層に、測定対象物質に特異的に結合する結合物質を配置する工程と、
前記測定用チップの前記結合物質に測定対象物質を結合させる工程と、
前記測定用チップの前記結合物質に結合させた測定対象物質に、蛍光色素で標識した結合物質を結合させる工程と、
前記蛍光色素を観察する工程と、
を含むことを特徴とする蛍光測定法。
IPC (4件)：
G01N 33/543 ( 200 6.01)
, G01N 21/64 ( 200 6.01)
, G01N 33/553 ( 200 6.01)
, G01N 21/78 ( 200 6.01)
G01N 33/543 595
, G01N 21/64 F
, G01N 33/553
, G01N 33/543 575
, G01N 21/78 C
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (5件)
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